SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
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时间:2024-05-13 13:37:50
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基本信息
标准名称: | 半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法 |
英文名称: | Method of measurement for peak emission wavelength and spectral radiation bandwidth of light-emitting devices |
中标分类: | 能源、核技术 >> 能源、核技术综合 >> 技术管理 |
ICS分类: | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
替代情况: | 被SJ/T 11394-2009代替 |
发布日期: | 1983-08-15 |
实施日期: | 1984-03-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-01 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 2页 |
适用范围
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所属分类: 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理 电子学 光电子学 激光设备
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